汕头HITECH触摸屏维修，金平HITECH触摸屏维修
腾鸣自动化控制设备有限公司。
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在各种单片机应用系统中，芯片存储器的正常与否直接关系到该系统的正常工作。为了提高系统的可靠性，对系统的可靠性进行测试是十分必要的。通过测试可以有效地发现并解决因存储器发生故障对系统带来的破坏问题。本文针对性地介绍了几种常用的单片机系统RAM测试方法，并在其基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM故障测试方法。
一、RAM测试方法回顾
方法1：一种测试系统RAM的方法是分两步来检查，先后向整个数据区送入#00H和#FFH，再先后读出进行比较，若不一样，则说明出错。
方法2：方法1并不能完全检查出RAM的错误，在参考文献中分析介绍了一种进行RAM检测的标准算法MARCH-G。MARCH一G算法能够提供非常出色的故障覆盖率，但是所需要的测试时间是很大的。MARCH-G算法需要对全地址空间遍历3次。设地址线为”根，则CPU需对RAM访问6×2n次。
方法3：一种通过地址信号移位来完成测试的方法。在地址信号为全O的基础上，每次只使地址线Ai的信号取反一次，同时保持其他非检测地址线Aj(i≠j)的信号维持0不变，这样从低位向高位逐位进行;接着在地址信号为全1的基础上，每次只使地址线Ai的信号取反一次，同时保持其他非检测地址线Aj(i≠j)的信号维持1不变，同样从低位向高位逐位进行。因此地址信号的移位其实就是按照2K(K为整数，大值为地址总线的宽度)非线性寻址，整个所需的地址范围可以看成是以全0和全1为背景再通过移位产生的。在地址变化的同时给相应的存储单元写入不同的伪随机数据。在以上的写单元操作完成后，再倒序地将地址信号移位读出所写入的伪随机数据并进行检测。设地址线为n根，则CPU只对系统RAM中的2n+2个存储单元进行访问。
二、基于种子和逐位倒转的RAM测试方法
基于种子和逐位倒转的测试方法是在方法3的基础上进一步改进获得的。方法3主要是使用全O和全1两个背景数来移位展开的，与MARCH-G算法相比获得的故障覆盖率稍微低些，但使用了较少的地址单元。这里我们把方法3中的背景数称为“种子”。以地址线为8根的RAM为例，种子分别取00000000和11111111两个数，取00000000、11111111、0000llll和llll0000四个数，以及取00000000、11111111、00001111、11110000、00110011、1100llOO、01010101和10101010八个数来移位展开测试，所达到的故障覆盖率是不一样的。种子数为2的改进方法要低于MARCH-G算法的故障覆盖率，种子数为4的改进方法与MARCH-G算法相当，种子数为8的改进方法能够超过MARCH-G算法的效果。整体上基于种子和逐位倒转的改进方法是可以代替MARCH-G算法的，但是种子数目不同所需要的寻址次数也是不同的。设地址线为n根，种子数为2时需要访问RAM共计4”+4次，种子数为4时需要访问RAM共计8n+8次，种子数为8时需要访问RAM共计16n+16次，而MARCH-G算法需要访问RAM共计6×2n次。可见，基于种子和逐位倒转的改进方法比MARCH-G算法的测试时间开销大大降低。同时，故障覆盖率会随着种子数目的增加而提高，当然不同种子数时所需要的测试时间开销也不同。在实际测试应用中要根据测试时间和测试故障覆盖率的需求来选择合适的种子数目，才能达到满意的效果。 1.正迁移故障
在对处于正迁移状态差压变送器使用过程中的测量准确度进行判断时，将会遇到以下两种问题：一是仪表输出错误，如果安装正常的操作顺序，应该先对差压变送器三阀组的正负压测量时进行关闭，然后进行平衡阀打开和放空仪表堵头操作，4mA极限值应该远远高于仪表输出值，倘若仪表输出值大于极限值，那么则说明运行装置存在堵塞现象，有可能发生故障的位置有三阀组和正压室引线；二是迁移量或者是零位显示不正常，如果将正压室取压点和放空开关依次进行关闭、打开操作后，仪表输出正常的情况下应该显示4mA，那么在迁移量或者是零位都较小时，仪表输出值将会明显低于4mA，反之，倘若仪表输出值大于4mA，此时零位或者是迁移量也会随之升高，此外，隔离液外漏或者是未装满会导致正负压室有隔离液渗入现象的发生。
2.负偏移故障
在对处于正迁移状态差压变送器使用过程中的测量准确度进行判断时，一般会进行两部分操作：先是应该先对差压变送器三阀组的正负压测量时进行关闭，然后进行平衡阀打开和放空仪表堵头操作，此时20mA应该为仪表输出值；之后将正压室取压点和放空开关依次进行关闭、打开操作后，4mA应该是仪表输出值，两次操作过后，仪表输出值均与实际不符的话，那么问题可能出现在以下几个方面：①隔离液渗漏；②正负压室引线不流通；③零位没找准；④迁移量发生改变。
液位的准确控制是生产装置稳定运行的前提保证，只有掌握了差压变送器测液面迁移的原理，才能在实际应用中灵活运用，及时准确的处理现场仪表出现的故障，以及对控制方案进行改进。
